原名:The use of acoustic emission to determine the integrity of large kovar glass-sealed microelectronic by Harman, George G.
作品简介:J. NBS 特别出版物 400-70。美国商务部/国家。 AE- 的累积声发射计数与时间的关系。大小样本的多次内部反射不可避免地会掩盖其位置。……
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原名:The use of acoustic emission to determine the integrity of large kovar glass-sealed microelectronic by Harman, George G.
作品简介:J. NBS 特别出版物 400-70。美国商务部/国家。 AE- 的累积声发射计数与时间的关系。大小样本的多次内部反射不可避免地会掩盖其位置。……
