原名:Transmission Electron Microscopy Characterization of Nanomaterials
作品简介:纳米科学和纳米技术系列 40 卷的第三卷,由著名科学家 Challa S.S.R. 编辑。库马尔。本手册全面概述了纳米材料的透射电子显微镜表征。现代应用和最先进的技术是共同的……

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