原名:Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
作品简介:当今国际市场对于高科技制造商来说竞争非常激烈。实现具有竞争力的产品质量和可靠性需要高层领导、良好的管理实践、有效且高效的运营和维护系统,以及使用适当的最新技术。……
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原名:Reliability, Yield, and Stress Burn-In: A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development
作品简介:当今国际市场对于高科技制造商来说竞争非常激烈。实现具有竞争力的产品质量和可靠性需要高层领导、良好的管理实践、有效且高效的运营和维护系统,以及使用适当的最新技术。……