原名:Development of a tailored methodology and forensic toolkit for industrial control systems incident by Carr, Nicholas B.
作品简介:工业控制系统、事件响应、SCADA、数字取证系统扩展了自动化系统的功能,以便对其进行监控用于识别恶意活动的框架导致集成电路制造系统发生故障,毁坏了价值数十亿美元的晶圆……

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